分析测试中心高分辨透射电镜试用公告

发布时间：2009-11-16发布部门：分析测试中心

    我校购买的日本电子公司JEM-2100F高分辨透射电子显微镜，已于2009年7月安装完毕，经长时间调试发现仪器目前仍存在高倍（>50万倍）图像抖动的问题，不利于选区电子衍射结构分析和高分辨像观察，至今还未验收，目前正在积极解决。为了满足学校广大师生科研的需求，经与仪器供应商协调后，分析测试中心决定从即日起对JEM-2100F透射电镜进行试运行。
    试运行期间每周四、五进行测试，若有需要，请到五号学院楼B111室预约，联系电话：67792624，杨老师。

    仪器简介
    仪器型号：JEM-2100F
    生产厂家：日本JEOL

    技术指标:
    加速电压: 200 KV
    放大倍率: 2000-1,500,000 X
    分辨率:  点分辨: 0.19 nm；线分辨:0.1 nm
    双倾样品台倾转角度: X轴±35°；Y轴±30°.

    主要配置:
    单倾、双倾样品杆，单倾冷冻样品杆，双倾加热样品杆；
    原位纳米材料单体电性能表征系统；
    牛津仪器IET 200 X射线能谱仪；
    Gatan 832型 CCD 成像装置。

    主要用途：
    主要用于无机固体材料的内部微细结构，晶体结构、缺陷观察与分析。

    样品要求
    为维护仪器的高分辨性能，对测试样品要求如下:
    (1) 现在只测试无机粉末，勿滴入太多粉末至铜网 (请先用光学显微镜检察)。
    (2) 具强磁性或易被电磁透镜吸引的粉末拒绝受理。
    (3) 有机物、高分子等样品，请送样至延安路校区透射电镜室。

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